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發明專利實體審查基準 一: 國際法規與案例彙編 (第2版)

發明專利實體審查基準 一: 國際法規與案例彙編 (第2版)

作者 : 張仁平

出版社 : 經濟部智慧財產局

※ ※ 無庫存

無庫存

定價 : NT 350

售價9折, NT315

內容簡介


本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例,其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容,列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範,包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約(EPC)、美國、實質專利法條約(SPLT)草案、與貿易有關之智慧財產權協定(TRIPs)與專利合作條約(PCT)等,以供比較參考,並於各章節編列相關案例,詳加解說,有助於瞭解專利審查基準之相關規範。
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