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發明、新型侵害鑑定報告及案例分析 (第3版)

發明、新型侵害鑑定報告及案例分析 (第3版)

作者 : 洪瑞章/ 陳森豐

出版社 : 經濟部智慧財產局

※ ※ 無庫存

無庫存

定價 : NT 300

售價9折, NT270

內容簡介


本課程與教材之主要設計目的是希望協助司法人員,以及專利侵害鑑定機構、專利事務所及企業內部之專利人員在面對發明或新型專利之侵權爭執當中,能夠正確解釋涉案專利之申請專利範圍,並瞭解及準確應用現行專利侵害鑑定規則,俾能公正客觀研判被控侵權之物或方法有無落入涉案專利之專利保護範圍。
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作者介紹

■作者簡介

洪瑞章/陳森豐

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